EIA 364-32D-2006 连接器冷热冲击测试

温度冲击试验
 
[温度冲击试验项目介绍]  
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
 
[温度冲击试验业务范围]
1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等
2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。
3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
4.其他：包装箱、运输设备等。
 
温度冲击试验测试标准
IEC 60068-2-14，GB/T 2423.22,GJB 150.5等
 
[温度冲击试验设备参数]
设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min
内箱尺寸：670×650×460mm
 
[苏试广博检测温度冲击试验优势]
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温度冲击试验 
项目介绍   
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。 
实验室测试参考标准 
IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等 
试验用途 
  试验主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在温度急剧变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验主要用于对产品按照国家*标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。  
试验适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，**，研位，等单位. 
实验室设备参数 
设备型号：CJ602S3 Ⅰ 试验温度范围：-75℃～200℃ 高温设定范围：+60℃～+200℃ 低温设定范围：0℃～-75℃