介电常数仪器，薄膜介电常数测定仪

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介电常数概述：
介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场（真空中）与介质中电场的比值即为相对介电常数(permittivity， 不规范称 dielectric constant)，又称诱电率，与频率相关。介电常数是相对介电常数与真空中**介电常数乘积。如果有高介电常数的材料放在电场中，电场的强度会在电介质内有可观的下降，理想导体内部由于静电屏蔽场强总为零，故其介电常数为无穷。
介电常数（又称电容率），以ε表示，ε=εr*ε0，ε0为真空**介电常数，ε0=8.85*10^(-12)F/m。需要强调的是，一种材料的介电常数值与测试的频率密切相关。
一个电容板中充入介电常数为ε的物质后电容变大εr倍。电介质有使空间比起实际尺寸变得更大或更小的属性。例如，当一个电介质材料放在两个电荷之间，它会减少作用在它们之间的力，就像它们被移远了一样。
当电磁波穿过电介质，波的速度被减小，有更短的波长。
根据物质的介电常数可以判别高分子材料的极性大小。通常，介电常数大于3.6的物质为极性物质；介电常数在2.8~3.6范围内的物质为弱极性物质；介电常数小于2.8为非极性物质。


◆★◆★◆★◆电阻率测试仪器如下◆★◆★◆★◆
1、液体介电常数测定仪
2、低频介电常数测试仪
3、高频介电常数测试仪
4、塑料介电常数测试仪
5、聚乙烯介电常数测定仪
6、硅橡胶介电常数测定仪
7、橡胶介电常数测定仪
8、材料介电常数测定仪
9、薄膜介电常数测定仪
10、聚酯薄膜介电常数测试仪
11、聚合物介电常数测量仪
12、介电常数及介质损耗测试仪

北京冠测精电仪器设备有限公司专注于材料电性能检测仪器的研发、生产与销售，是国内良好的检测设备生产厂家！
使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
1．测试注意事项
a．本仪器应水平安放。
b．如果你需要较**地测量，请接通电源后，预热30分钟，将调谐电容从小到大缓慢地调一次，CPU将自动对显示的电容进行温度补偿，然后再进行测试。
c．调节主调电容的电容量时，特别注意当刻度调到较大或较小值时，不要用力继续再调．
d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、**，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。
e．被测件不要直接搁在面板**部，离**部一公分以上，必要时可用低耗损的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。
f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2．高频线圈的Q值测量(基本测量法)
  A．直接法
  a．将按测线圈接在“Lx”接线柱上；
  b．选择适当的工作频段和工作频率；
  c．先调调谐电容器到谐振点，即Q表读数达较大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值(Qt)，则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正：
    
C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。
当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。
B．变容法
a．照直读法“a-c”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；
b．转动主调电容，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC。
                  
要想得到**结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。
测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为：
            
C. 变频法
a．按直读法“a-c”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0。
b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf。这时回路的真实QT为：
                         
考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为：
          

   变频法测量Q值一般表达式(未考虑分布电容)：

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