iEDX-150 A T 多镀层厚度分析光谱仪

iEDX-150(A)T光谱仪是我司与美国密西根大学、*大学等光谱*、软件*共同合作研发的X射线荧光光谱仪。采用SDD探测器、英国牛津射线管、美国SPELLMAN高压电源等高端硬件配件，及目前国际上较先进的软件算法--FP基本参数法。实现无损检测，**检测，全元素检测。

应用领域
    **用于元器件、零配件等的金属电镀镀层分析，可同时分析镀层中的合金成份比例及增加RoHS有害元素分析功能。

技术特点
    无损检测，**高测试精度
    多镀层检测，1-6层
    元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
    测量时间：5-40秒
    SDD探测器，能量分辨率为129电子伏特
    多准直器及滤光片自动切换
    XYZ三轴自动移动平台（可选配手动或自动平台）
    可对样品自动和编程控制，多点自动测量
    可根据客户要求**标准曲线
    一键式操作，使用方便、快捷
    可多元素同时检测，省时省费用
    运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低
    软件终身**升级
    平台移动范围200（X）*230(Y)*25(Z)MM
    仪器尺寸526*637*484MM