供应太阳能组件EL缺陷测试仪

一、太阳能组件EL缺陷测试仪设备名片        
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太阳能组件缺陷测试仪（以下简称EL全测试仪）用于晶体硅的缺陷检测，可与客户的产线配套，实现自动上下料，自动测试，可人工对缺陷进行标记，保存在本地或远端数据库中，PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接，传输测试结果和报警信息，并可依据客户需求定制功能。
 
二、太阳能组件EL缺陷测试仪设备图片及样品图片 
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半自动EL测试仪

 
全自动EL测试仪
 



三、太阳能组件EL缺陷测试仪组成部件介绍       
 
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 1、成像系统
成像系统采用采用进口的SONY EXview HAD CCD，有140万、600万可供用户选择，并支持双相机模式。
良好的成像质量，SONY EXview HAD CCD，成像质量优良，并带有半导体制冷，较低可达-20°C，排除热噪声的影响，使图像质量进一步提升，一体化设计，接口简单，便于维护，CCD相机采用一体化设计，USB接口供电和数据传输，维护简单。
2、运动控制单元
运动控制单元负责整个EL全自动测试仪的流程控制和单个功能模块的手动功能调试。
运动控制单元采集传感器的状态来控制设备的工作流程，同时通过传感器获知各个单元的工作状态，当某个工作单元出现故障时，运动控制单元能够立刻停止当前的操作并保持状态，并通过串口与PC机交互发送和接收命令和上传报警信息。
3、计算机控制系统
（1）计算机配置**工业控制电脑，稳定性好，中文WindowsXP操作系统。
（2）**缺陷检测（EL）图像采集处理软件采用**操作界面，简单明了，
中/英文操作环境，支持手动标记缺陷位置，不同的缺陷具有不同的标记符
号，方便识别，标记结果可与图片一同保存。
（3）数据库管理测试结果，便于检索和查找，并可与客户数据库接口，上传
测试结果。
（4）提供以太网接口，可同客户生产管理系统接口，上传测试图片、设备工
作状态和报警信息。
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四、太阳能组件EL缺陷测试仪技术参数      
 
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CCD相机
140万（单/双）、600万（单/双）可选、830万（单/双）可选
测试时间	<40秒
测试尺寸	2100mm X 1200mm
分辨率	1392x1040（140万） 3032 x 2016（600万）		
可编程电源输出电压	0~80V		
可编程电源输出电流	0~9.**		
可编程电源输出功率	≤760W		
测试方式	无接触式		
曝光时间	0~60秒可调
压缩空气	< 0.8Mpa
工作温度	0～30℃
整机工作功率	<1KW
工作时间	可连续工作12小时以上
电源	单相220V/50Hz/2kW
                     
五、太阳能成套相关配套设备     
 
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 太阳能组件测试仪
 
 
半自动EL缺陷测试仪
 
 
全自动EL缺陷测试仪
 
 
太阳能电池分选机

 
激光划片机