LCR测试仪IM3536

上海楹点检测设备有限公司

LCR测试仪IM3536

测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪

测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻 可内部发生DC偏压测量

● 测量频率DC，4Hz~8MHz

● 测量时间：快1ms

● 基本精度：±0.05% rdg

● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量

● 可内部发生DC偏压测量

● 从研发到生产线活跃在各种领域中

主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

电解电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536

电解电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536

根据JIS标准测试电解电容器，电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大，因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。

LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz，适用于以上产品特性评估。

陶瓷电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536

陶瓷电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536

陶瓷电容器可分为，随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz，内置电压范围10mV~5V，非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。

电感器（线圈）的电感测量：LCR测试仪IM3536

电感器（线圈）的电感测量：LCR测试仪IM3536

电感器（线圈）所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率低的频率下测量L和Q。

LCR测试仪IM3536的测量频率很广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改变测试频率进行测试。

基本参数

测量模式 LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）

显围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）

测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)

[V模式, CV模式]的[低Z模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)

[CC模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)

[CC模式]的[低Z模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)

[直流电阻测量]: 1 V固定

DC偏压 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z模式时0 ~1 V)

输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z模式: 10 Ω

显示 彩色TFT5.7英寸，触摸屏

功能 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

体积及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1

可配套使用的产品（2023年1月）

电压偏置测试系统CN010

电压偏置测试系统CN010

半导体器件的直流偏置特性研究，适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试

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多路扫描测试软件CN040

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多通道测试

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多路转换器ZC3001

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高速多通道切换！

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PC通讯

GP-IB连接线9151-02

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2m长

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RS-232C 连接线 9637

RS-232C 连接线 9637

9pin-9pin，1.8m长

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探头·治具

※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。

SMD测试治具IM9100

SMD测试治具IM9100

直接连接型，底部有电SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS

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4端子开尔文夹9140-10

4端子开尔文夹9140-10

DC~200kH，50 Ω，1 m长

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测试治具9261-10

测试治具9261-10

线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

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测试治具9262

测试治具9262

DC～8 MHz, 直接连接型

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SMD测试治具9263

SMD测试治具9263

直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

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DC偏置电压单元 9268-10

DC偏置电压单元 9268-10

直接连接型，40Hz~8MHz，大外加电压DC±40V

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DC偏置电流单元 9269-10

DC偏置电流单元 9269-10

直接连接型，40Hz~2MHz，大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)

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4端子探头 9500-10

4端子探头 9500-10

线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm

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SMD测试治具9677

SMD测试治具9677

用于侧面有电的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

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SMD测试治具9699

SMD测试治具9699

用于底部有电的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5

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探针IM9901

探针IM9901

用于换L2001的的通用尺寸，L2001标配

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探针IM9902

探针IM9902

用于换L2001的的小型尺寸

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4端子探头L2000

4端子探头L2000

DC~8MHz，1m长

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镊形探头L2001

镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，电间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺

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