xrf光谱分析仪 厂商

江苏天瑞仪器股份有限公司

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍，ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
相比之前的传统的ROHS检测仪，虽然它们大多型号也能在原基础升级为卤素测试，但需在硬件和软件上做较大的改动，且成本较高，目前市场上的能测ROHS和卤素的仪器都是分体式设计，成本较高些，而天瑞的EDX1100在算法软件上，将ROHS测试和卤素测试一体化，两者化二为一，等于是一个整体，在产品成本上大大得到了压缩，也等于是直接让利了客户，相比之前分体式设计也能同时检测ROHS和卤素的机台，EDX1100的一体化设计，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的铍窗X大功率光管，寿命提高了5000小时，在应用上属于通用于ROHS检测仪器，广泛应用于塑胶，五金，电子电器，化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）测量时间：200S
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm含量范围：1ppm～99.9%稳定性：0.01%管压：5～50KV管流：≤1000uA探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV准直器：6种准直器自动切换滤光片：5种滤光片自由切换样品观察：高清工业摄像头环境湿度：≤70%环境温度：15℃～30℃电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

EDX5600是国内应用多的一款设备，除了较高的性价比外，其更人性化的设计软硬件，使其在电子电器，通讯制造，家电配件，塑胶，五金等领域得到了广泛的应用，采用新一代的铍窗X大功率光管，寿命提高了5000小时，在应用上属于通用型ROHS检测仪器。
技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U） 可以测量包括ROHS卤素元素外的70多种元素。
有ROHS分析软件，只针对ROHS六项测试和卤素元素测试的窗口。一健式操作。
测试时间可人为设置，可短或长。一般测量时间：60S-200S
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm 检出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就检不出来。含量范围：1ppm～99.9%稳定性：0.01% 管压：5～50KV管流：≤1000uA探测器：半导体电子制冷探测器，分辨率可达165eV准直器：8种准直器自动切换滤光片：4种滤光片自由切换样品观察：高清工业摄像头环境湿度：≤70%环境温度：15℃～30℃电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

对一些元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于：五金、接插件、电子，电气，连接器，电镀，PCB，塑料，皮革，鞋材等来料的ROHS分析，重金属分析。
产品特点：
1、从硫（S）到铀（U）的快速元素分析；
2、检测灵敏度高；
3、测量时间短；
4、彩色CCD系统用于样品图像观察；
5、有多种规格的准直器和滤光片选用，自动切换，满足各种物质测试方式应用；
6、电制冷探测器，提高测量稳定性，提高分析的准确性，*耗材；
7、机械结构简单，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，经验系数法、网络法、基本参数法；
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计，更好地**操作员的人身。流水线型外观，美观，仪器内部空间大样品腔，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰；
10、**短光路设计，风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散热更好，良好的散热系统，更能保证仪器的**长使用，并能有效的X光管的寿命；
11、上照式：可满足各种形状样品的测试需求，样品成像准直系统，实现对样品的准确点测；
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成，设置了自动防护开关，以确保用户使用。

如何选择ROHS检测仪呢？作为的 rohs检测仪生产商，可以从以下几方面入手考虑，
 先要考察公司的实力，与购买其他产品一样，要购买XRF，我们需要了解该是不是在RoHS指令期间出现。我们都知道仪器技术依赖于积累和沉淀，如果这个公司没有长时间的技术积累，只是为RoHS而生。没有市场认可度很可能突然蒸发，用户将做什么以及谁将负责服务？ 
  除了测试RoHS指令测量的元素外，仪器的某些XRF还具有其他功能。有XRF还具有厚度测量功能。以及其它成分的分析。
仪器的性能是购买仪器非常重要的指标。为什么仪器的价格相差较大，主要原因是仪器的心脏，探测器
探测器分辨率的高低决定了仪器的价格和主要性能
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。