x射线荧光光谱仪 天瑞仪器 微量元素检测仪市场分析报告

江苏天瑞仪器股份有限公司

三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器，分辨率至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选**组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）

国内新型的一款多元素分析仪，可检测普碳钢、高中低合金钢、不锈钢、生铸铁、球墨铸铁、合金铸铁、锰铁等多种材料中硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等多种元素。有四个控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。可以满足冶金、机械、铸造等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需求。 
一、主要技术参数：
1、分析方法：光电比色分析法
2、量程范围：0-1.999A吸光度值，0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn：0.010～18.00% P：0.0005～2.000% Si：0.010～6.000% ΣRE：0.010～0.500%
Mg：0.010～0.200% Cr：0.01～28.000% Ni：0.010～30.000% Mo：0.010～7.000%
Ti：0.010～5.000%
3、测量精度：符合GB/T223标准
4、可测元素：硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。 
二、主要特点： 
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成，各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法，使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准，保证测量精度，内置多条曲线，可满足多种元素的分析需要。仪器的内存更大，可测元素更多。
3、仪器建立了的数据库，用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询，其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。

元素分析范围：硫（S）~ 铀（U）
分析检出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围：15℃ ~ 30℃
电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg