SCR曲线图示仪晶体管图示仪

深圳市新耀德电子仪器有限公司

二手CS3200日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪， 半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。

测量方法 CROSS-POWER法 测量项目 较大磁通密度 （Bm）、剩余磁通密度 （Br）、较大磁场 （Hm）、矫顽力 （Hc）、方形比 （Br/Bm）、振幅相对导磁率 （μa）、磁芯损耗 （Pc，Pcv，Pcm）、相位角 （θ）、总磁通量变化 （2μm）、较大感应电压 （V2m）、较大激励电流 （I1m）、皮相功率 （VA） 阻抗导磁率 （μZ）、复磁导率 （μ'， μ''）， 损耗系数 （tanδ）、电感 （L）、电阻 （R）、阻抗 （Z） 质量系数 （Q）、总谐波失真 （THD） 测量波形 B-H曲线、励磁电流/感应电压/磁场/磁通密度波形 测量频率 正弦波 10Hz～10MHz（SY-8218） 10Hz～1MHz（SY-8219）

磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法较大容许电流±6A 磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法 较大容许电压±200V 数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle） 样品连接方法 2绕线法或1绕线法 显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素 电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX） 尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg 外部存储器 USB（数据存储） 配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）

与电脑全自动化的**结合 CS-810半导体参数测试软件 (选件) 通过对主机的远程控制, 可实现各种自动测试的软件. 传统上通过曲线图示仪难以进行的疲劳测试. 加热实验或同时控制恒温箱进行多温度点实验都可使用本软件来实现 (附图) USB 存储器 图像: 数据和设置条件 格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可选择为黑色或白色, 彩色或单色) 波形数据: 文本文件和二进制文件 远程控制工具 如因保密需要而冇法使用USB存储器时, 可以通过安装在PC的远程控制工具进行数据存取 以太网
模块或数个芯片, 器件自动切换测试 可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量 测试结果窗口 (附图) 波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图) 产品应用 适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试 电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A) 可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A) 静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图) 传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能 器件测试 可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图) 半导体温度特性测试评估
数据保存/读取 内置：存储器（设置：256，REF波形： 4） 外置：移动存储器（连接至USB端口） （设置、波形保存/再调用、屏幕硬拷贝） USB 1个端口(USB1.1) 远程控制 通过局域网进行远程控制：1个端口(100BASE-TX) 电源/功耗 电源输入范围：100 - 240 V AC， 50/60 Hz 功耗：500 VA 配件 CS-301（S型测试台）、 CS-500（测试适配器）、 操作手册、 电源线 CS-302（M型测试台）、 CS-500（测试适配器）、 线束、 操作手册、 电源线 机械部分 尺寸(mm) 424 (长) x 555.2 (宽) x 221 (H)（不含外部凸出部分） 424 (长) x 555.2 (宽) x 354.5 (H) （不含外部凸出部分） 重量 约30 kg（不含选配件） 约45 kg（不含选配件） 环境条件 工作温度：0 - +40 °C、 保证性能温度：+10 - +35 ℃品牌:Agilent/安捷伦
工作温度:常温
显示方式:数字式
类型:多参数测试仪
晶体管:CS-3100
介子分析仪:SY-8219