产品规格: | 不限 | 产品数量: | 不限 |
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包装说明: | 不限 | 价格说明: | 不限 |
查看人数: | 151 人 | 本页链接: | https://info.b2b168.com/s168-251292665.html |
公司编号: | 23119558 | 更新时间: | 2022-12-02 14:45:41 |
激发源: | 陶瓷封装微焦点X射线管,银靶50KV | 探测器: | 高性能Si-Pin探测器/SDD探测器(石墨烯窗口) |
分辨率: | 140eV FWHM/129eV FWHM | 窗口: | kapton窗口片,可选碳纤维防扎窗口 |
滤光片: | 智能多位 | 准直器: | 5mm(可选3mm) |
电池: | 7.2V锂离子,6800mAh | 显示器: | 电容触摸式彩色显示屏(5寸) |
CPU: | i.MX 8M Mini四核1 .8GHz | 多道处理器: | 4096像元多道分析器/80 MHz ADC数字信号处理器 |
数据储存: | **10万条数据储存 | 数据传输: | WiFi、USB |
结构设计: | *特的AXRUNI机构设计,有效增加光管散热 | 分析元素: | Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Hf、Ta、Re、Cu、Zn、W、Se、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Al、Pd、Ag、Sn、Sb、Pt、Au、Ru、Ir、Rh等 |
运行环境: | 温度:-10℃~50℃,湿度:相对湿度0%~80%(非冷凝) | 仪器重量: | 1.5KG(含电池) |
仪器尺寸: | 220mm*91mm*276mm(长*宽*高) |
简介:
镀层厚度测量在加工行业的表面处理环节中起着重要的作用,是确保产品达到优等质量的必要手段。镀层的厚度与生产成本密切相关,鉴于某些金属市场价格的波动,如果镀层太厚对于加工企业来说很容易造成损失。反之,镀层太薄则将无法达到性能指标或外观要求而造成返工或退货。基于X射线荧光(XRF)的镀层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。
使用优势
快速易用
实现镀层厚度及成分分析的秒级检测速度,体积小巧,便于携带;
高精确度
采用进口陶瓷封装微型X射线源和高性能半导体探测器,有效提高测试精度;
操作简单
直观用户见面,几乎不需要培训,配备大尺寸高清晰触摸显示屏;
智能操控
全自动智能控制,一键式测量;
一机多用
可在未知镀层成分时快速分析镀层厚度及组成,轻松针对标准镀层实现镀层分析标准化;
坚固耐用
坚固耐用、符合IP54标准,防水防振,可在恶劣环境下工作.