半导体XRD测试——广东省*半导体*是广东省*下属骨干研究院所之一,单晶XRD哪里有,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd峰偏移原因有哪些
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小;如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大;制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品**样品板参照面就会使衍射峰左移。
如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少数或个别高角度峰发生位移,则不是掺杂原子引起变化所致,很可能是存在宏观,引起晶格畸变的反映.宏观可能引起晶格收缩,对某些为压应力时峰向高角度发生位移,单晶XRD价格,反之为拉应力时衍射峰向低角度发生位移。
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XRD主要测什么?
1、晶体结构分析;
2、物相定性分析;
3、物相定量分析;
4、晶粒大小分析;
5、结晶度分析;
6、宏观应力和微观应力分析;
7、择优取向分析
XRD图谱怎么分析?
1、在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的'晶态'物质,图谱的特征是有若千或许多个一般是彼此独立的很窄的“尖峰”。
2、如果这些“峰”明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,单晶XRD多少钱,可以称之为'微晶'。
3、Scherer(118)揭示了衍射峰的增宽是对应晶面方向上的原子厚度(县数|不足以在偏离Bragg条件下相干减弱(destructivelyinterference)衍射峰。当衍射峰宽度增加到接近其高度时(或高度下降到接近其宽度时),可认为样品是非晶。
4、同一物质的话,峰窄说明晶粒比较大,和结晶度无关。同一台仪器测试且测试条件相同的情况下,峰高的比较多才能说明结晶情况较好
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XRD可以用于定量分析哪些内容?
A. 样品的平均晶粒尺寸,基本原理:当 X 射线入射到小晶体时,其衍射线条将变得弥散而宽化,晶体的晶粒越小, x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系,即谢乐公式(Scherrerequation),下期会详细分析其原理与注意事项。对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒,其颗粒大小 d(单位 nm)与其分散度 D 之间可以简单地换算:d ≈ 0.9/D (注:0.9这个常数是经验值) 。
B. 样品的相对结晶度:一般将衍射峰积分所得的面积(As)当作计算结晶度的指标,与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较,结晶度=As/Ag***。
C. 物相含量的定量分析:主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全谱精修定量等。其中,RIR法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(Al2O3),山西单晶XRD,其衍射峰的积分强度会有一个比值,该比值为RIR值。通过将该物质的积分强度/RIR 值总是可以换算成Al2O3的积分强度。对于一个混合物而言,物质中所有组分都按这种方法进行换算,后可以通过法得到某一特定组分的百分含量。
D. XRD还可以用于点阵常数的精密计算,残余应力计算等
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