半导体XRD测试机构-大功率XRD联系方式-甘肃大功率XRD

半导体XRD测试——广东省*半导体*是广东省*下属骨干研究院所之一，大功率XRD服务，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

温度对薄膜晶面生长的影响

根据实验数据将不同温度所镀相同材料做出同一坐标下射线衍射强度—2倍衍射角曲线图，从图中可以分析出各个晶面衍射强度随温度的变化趋势，大功率XRD联系方式，在不同温度下所镀膜层，其某一晶面衍射强度不同，衍射强度越大，说明该温度越有利于该晶面的生长。

温度升高的过程中:

(1)、有利于 BaF2 (200)、(400)晶面的生长。猜想，在>300c存在一温度有利于BaF2 (200)、(400)晶面的生长。

(2)、抑制BaF2 （111)、(311）晶面的生长。猜想在<250c存在一温度利于BaF2 （111)、(311）晶面的生长

(3)、温度升高对于 BaF2 (222）晶面则表现为基本相同。猜想，温度对BaF2(222）晶面生长几乎不影响，或者，250——300·c之间存在一温度利于或不利于BaF2 (222）晶面的生长。

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如何在Jade中采用Sherrer公式计算晶粒尺寸？

Jade软件中直接集成了采用半峰宽来计算样品的晶粒尺寸这一功能，比较方便。要想使用该功能，****在Edit-->Preferences-->Report里面勾上，Estimate Crystallite Size from FWHM Values。勾上之后就可以很方便的进行粒径分析了，如下图所示，甘肃大功率XRD，采用EditToolbar中的积分按钮，在主峰下拉取基线，会自动弹出窗口，里面包含晶粒尺寸信息。注意，大功率XRD哪家好，这里算出来的是平均尺寸，且使用范围为3-200 nm。 

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设备介绍：

X射线/紫外光电子能谱仪（XPS/UPS）利用X射线（或者紫外线）照射样品激发出光电子，并通过检测和分析光电子动能大小与光电子信号强度的关系，确定样品中所含元素种类及其化学态。Nexsa具备XPS、UPS功能，可采用微聚焦小光斑（小10 μm）实现微区成像与成分分析，并具有深度剖析功能，可以检测分析块体、薄膜、粉末或器件等固体样品的元素组成、化学价态、价带、功函数等信息。

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