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信息编号:225053983,公司编号:13613533
产品规格:上照式
产品数量:99.00 个
包装说明:不限
产品单价:面议
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x射线荧光膜厚分析仪技术参数和性能介绍,x射线荧光膜厚分析仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度平台可测试点,重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光,可自动定位测试高度。定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐。
产品技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。