X射线荧光光谱测试飞秒检测 成分分析配方检测

X射线荧光光谱分析（XRF）：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素 的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。光谱仪的实际例子是波长散射型（WDXRF）荧光光谱和能量散射型（EDXRF）荧光光谱仪。

（1）可测试样品形态多样，包括固体、小的加工件、粉末、饼、熔融体、液体、制成试样（薄膜）等。

（2）测试面必须平整，不平整的固体或者加工件要预先进行切削和研磨抛光。研磨抛光条纹会引起所谓的“屏蔽效应”,尤其对长波辐射线与磨痕垂直时,强度降低严重.因此要求试样磨痕大小一致,且和标准试样相似,以抵消影响.对于某些韧性的多相合金,要防止磨料颗粒的沾污.

（3）粉末试样通常采用研磨法使其达到一定的粒度后,再压制成圆形样片.有时需要添加稀释剂或黏贴剂,用研磨手段使样品均匀.采用粉末试样压片测定,试样粒度一 般小于0.075mm,当分析元素的波长大于0.25nm时,则粒度要求在0.044~0.037mm之间或更细. 常用的磨具有玛瑙、碳化硼、碳化硅、碳化钨、不锈钢、高硬度的合金钢等制成. 常用的黏贴剂有淀粉、硼酸、甲基纤维素、聚乙烯粉末、石墨=石蜡粉等.

（4）液体样品可以负载在滤纸上测试。

（5）对于聚合物和轻合金例如Al, Mg 和Ti，至少应该5mm厚，对 于液体较小厚度是15mm，而对于其它合金厚度大约为1mm。

（6）理论上可以测量元素周期表中以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

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