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纳米铜粉成分的分析方法——X射线光电子能谱技术XPS

XPS是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，纯铜粉价格，从而获得待测物组成。主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。元素的定性分析和定量分析。固体表面分析。在光电子来自表面10nm以内，纯铜粉厂家，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。

纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束较细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，水雾化纯铜粉，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。

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使用的铜粉粒径0.3-7微米，铂粉粒径小于1微米。

使用的玻璃成分为: Pb3O4-43.5%（wt）、Al2O3-4.3%、CaO-9.8%、B2O3-4.9% 和SiO2-37.5%。

试验电阻浆料通过丝网印刷，鹤壁纯铜粉，转印到氧化铝陶瓷基片上，电阻图形2.5X5毫米，干燥温度100摄氏度、干燥时间10分钟，烧结峰值温度850摄氏度、峰值烧结时间10分钟。

阻值变化率是在烧结后，无电负荷，在常规大气温度和湿度中放置130小时。

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