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平面刻线衍射光栅
制作原始或者母光栅的初始步骤是对基底材料的选择,反射光栅,通常为玻璃或者铜。将基底材料抛光**平整度并对其镀一层很薄的铝膜。刻划平行度和刻线的等距需要漫长的时间进行调整,可能需要花费几天进行设置并在实际刻划之前进行测试。刻划机必须能够在每次刻划后让钻石刀头按精i确路线折回,并按预定量对基底进行刻划。刻线的平行度和位移必须精i确控制。
凹面衍射光栅
光栅绝i对衍射效率的理论计算发展的较为完善,至今已提出了许多新的概念与方法,然而测量凹面光栅的相对衍射效率的通用设备却较少提及。目前,凹面光栅的衍射效率测试设备一般采用双单色仪结构,前置单色仪提供单色光,后置测量单色仪对光栅衍射效率进行测量。
美国田纳西州光栅实验室研制了工作在紫外波段的凹面光栅衍射效率测试装置,通过来回移动探测器达到测量不同波长、不同聚焦位置、不同级次的衍射效率目的,然而该装置对待测凹面光栅的衍射效率进行测量时仅能给出分立波长的结果。曲艺利用光栅二级光谱影响反射样品光谱反射率的原理来获得真空紫外波段光栅二级光谱衍射效率,该方法存在测量波长范围较小且需要已知参数较多的问题。
中红外光谱波段凹面光栅衍射效率测试装置,该装置可测量待测凹面光栅的绝i对衍射效率,但是该仪器仅能对单一类型的凹面光栅衍射效率进行测量。此外,传统双单色仪结构的凹面光栅衍射效率测量方法中,待测光栅和标准反射镜出射光谱带宽不一致、光栅叠级、测量过程中光源不稳定性等问题影响光栅衍射效率的测量精度;前置单色仪需要定期进行定标、一次测量只能实现单一波长衍射效率的测量等因素又降低了其测量效率。
针对以上问题,本文提出了一种基于傅里叶光学原理测量凹面光栅衍射效率的新方法,建立了该方法测量凹面光栅衍射效率的数学模型,铁岭光栅,并对测量中各影响因素进行了仿i真分析。对比传统双单色仪结构,本文方法能够有效避免光源不稳定性、出射光谱带宽不一致、光栅叠级等问题对测量结果的影响,同时具有多波长同时测量、高光通量、高光谱分辨率、高波数精度、抗杂散光强的优势。
平面光栅
高效绕射/衍射光栅
在订购平面光栅时,请使用以下示例格式:P 1200 W x H x THK, 700-900 nm (TM+TE)/2 (-1) 常数偏差角 10°
1. P 代表平面镜, L 代表利特罗反射光栅 (选配信息)2. 1200是槽密度(槽频率)单位:槽数/mm3. W 是与光栅凹槽平行的外观尺寸,单位mm4. H 是与光栅凹槽垂直的外观尺寸,单位mm5. Thk 外观厚度,单位 mm6. 700-900 nm波长是设计的标准范围。也可以指i定一个波长范围。7. (TM+TE)/2 (-1)是光栅优化后的理想的偏振状态和衍射顺序。也可以指i定TM和TE8. 常数偏差角10° 是光栅的**配置。也可以指i定一个恒定的入射角度。
刻密度
Spectrogon公司生产会定期生产每毫米600刻至每毫米3600刻的产品,如需降低或提高沟槽密度,请与我们的销售团队联系。
波长范围:从紫外线波长至大约2000 nm的波长
标准尺寸
25 x 25 x 6 mm, 30 x 30 x 6 mm, 50 x 50 x 6 mm, , 50 x 50 x 10 mm, 58 x 58 x 10 mm, 64 x 64 x 10 mm, 90 x 90 x 16 mm, 110 x 110 x 16 mm, 100 x 140 x 20 mm, 120 x 140 x 20 mm
W, H,直径的标准共i产: ± 0.2 mm 厚度公差: ± 0.5 mm。每个维度的 CA > 90 %.
如需其它规格的产品,请联系我们的销售部门!
平面光栅适合高分辨率光谱学应用,衍射光栅,其中,低杂散光水平是非常重要的。有了种光栅,光谱线就会变得更清晰,其波长会更加准确。
较低散射光
这些光栅是全息记录的,光栅哪家好,带有两个高度准直的,纯净均匀的光束,这些光束可以形成笔直和等距的刻槽。这些光栅的衍射光不受光谱鬼线的干扰。随机散射的光和铝镜表面一样低。