产品规格: | 不限 | 产品数量: | 不限 |
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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头,并使用特殊的校准标准片。 ·必须使用一试片法。 ·使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。 说明:在温度变化较大的情况下,OPTM优点,如冬季或盛夏在室外操作时,OPTM反射率测试,应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。
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膜厚测试仪调校步骤:选择要调校的产品程式;选择菜单“调校---调校”开始进行“调校”屏幕左下角的指令窗口会出现,OPTM光学膜测试,按“确定”结束调校。
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膜厚仪光学监1控是高精致镀膜的的首1选监1控方式,这是因为它能够更准确地把持膜层厚度(如果利用切当)。精1确度的改进源于很多因素,但较基础的起因是对光学厚度的监1控。对单波长光学监1控体系,OPTM,是采用间接测控,结合先进光学监1控软件,有效提高光学反应对膜厚度变革灵敏度的实际跟措施来减少终1较误差,供应了反馈或传输的决定模式跟大范围的监测波长。特别适合于各种膜厚的镀膜监1控包括非规整膜监1控。