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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、**EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
根据测量原理,涂层厚度计通常有五种类型:
1、磁性厚度测量:适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说,磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、涡流厚度测量:适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。
3、超声波厚度测量:目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器,大塚MCPD,多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵,测量精度不高。
4、电解厚度测量方法:此方法不同于上述三种,不属于NDT,需要破坏涂层。一般精度不高。
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为什么厚度计有时不能自动识别基板?
薄膜厚度测试仪是一种既有铁基又有非铁基的综合仪器。它可以通过中文菜单操作模式自动识别基材,但菜单i选择中有“自动”和“磁性”“涡流”的多种选择。只有选择“自动”模式,MCPD光学膜测试,才能自动识别基础材料,如果你只测量它。铁基材料可以选择“磁性”选项。
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膜厚测量仪校准方式
仪器校满度
1.根据待测涂层的厚度,选择合适的标准膜片进行全刻度标定。
2.首先,将标准膜片放置在铁基体上(或者没有涂层测量体)。
3.然后按测量探头在标准的隔膜,MCPD,与测量值显示。如果测量值不同于标准膜片,MCPD价格,则可以通过添加1或负1个键来校正测量值。当进行校正时,必须抬起探头。否则,按1键或减少1键。
4.为了保证校准的精度,可以通过重复测量同一标准膜片来验证。