X光机-苏州奥克思光电科技(图)

γ射线有很强的穿透性，射线探伤就是利用γ射线得穿透性和直线性来探伤的方法。γ射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，X光机，也可用特殊的接收1器来接收。当γ射线穿过（照射）物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，获得的信号就弱。因此，用γ射线来照射待探伤的零部件时，若其内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过的强度就大些，若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收1器也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平面投影和射线的透过量。一般情况下，γ射线探伤是不易发现裂纹的，或者说，γ射线探伤对裂纹是不敏感的。因此，γ射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷较敏感。即γ射线探伤适宜用于体积型缺陷探伤，而不适宜面积型缺陷探伤

X射线较初用于医学成像诊断和 X射线结晶学。但现在已被广泛的应用在了工业领域。如

国内**厂家易方达生产x-ray射线测量仪就已经被广泛的应用在了SMT、BGA检测、半导体、LED、铸造（铸铝，铸铁）、塑胶、接插件、锂电池（金属壳，聚合物）、3D打印分析、医1药产品、食品、汽车电子、陶瓷产品、农业种子筛选等，以及大型铸件、塑料件、航空件等。可见x-ray射线测量仪与我们的生活也息息相关了。

标准：1）IPC-A-610D (E) 电子组件的可接受性。2）MIL-STD 883G-2006微电子器件试验方法和程序3）GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序4）GJB 4027A-2006军1用电子元器件破坏物理分析方法5）GJB 128A-1997半导体分立器件试验方法

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