光电耦合器恒流恒功老炼检测系统

一、产品概述
   试验标准：符合国**GJB128及美**MIL-STD-750的相关要求。

   适用范围：适用于各种封装的单、双、四光电耦合器进行恒流或恒功稳态老炼试验。

   试验环境：常温型，独立双温区，避免不同功率器件温度串扰。


二、技术参数
技术参数
参数分类	参数名称	技术指标
试验箱	配置	常温型，独立双温区，避免不同功率器件温度串扰。
	温度保护	试验腔的风道的合理设计，提高区域的温度场的均匀性;
数字显示2个试验区域温度，试验区域的温度通过风机调速进行调节、控制；
试验区域的温度上限可分别设定，设置**温报警功能，确保电子元器件的试验安全性。
	温度记录	电脑实时检测、记录试验箱温度，实时描绘试验箱的温度-时间曲线，在整个试验过程中实时监控高温试验箱的温度，防止试验箱温度波动导致器件失效。
区域容量	试验区域	标配16个区。
	试验通道	16个通道。
	试验容量	40*16=640个检测工位。
试验电源	配置	配置4台（8路）规格为0-50V/20A的双路直流程控电源。
	电源路数	输出1路可编程电源VCC，控制输出功率。
	电源精度	≤±1%±2LSB。
	电源保护功能	具有过压、过流、短路、过热等保护功能。
	电源检测记录	电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。
	其他	各种输出电压的电源规格可按要求选配，具有稳压恒流两种工作模式。
恒流恒功控制	路数	每个通道40路恒流源，整机共配置640路恒流源。
	类型	可以选择设置输入发光二极管恒流或输出光电三极管恒功老炼试验。
	电流范围	电流程控范围：1.0mA～100.0mA。
	控制精度	电流程控精度：≤±1%+2LSB。
	保护功能	恒流电流可以设置上、下限，**过上限系统自动关闭负载（硬件电路实现，高速反应）并报警，低于下限则报警。
监测保护	电压检测	检测范围：0V～50.0V；误差：1%±2LSB。
	电流检测	检测范围：1.0mA～100.0mA；误差：1%±2LSB。
	电压电流检测	实时监测每个被试验器件的输入发光二极管、输出光电三极管电流、输出光电三极管电压、输出光电三极管功率。
	上电检测	增加被试验器件加载前扫描功能，确保器件上电试验安全。
试验工位	单光耦	40工位/通道。
	双光耦	20工位/通道。
	四光耦	10工位/通道。
老化板	基板	根据用户要求选配，标配基板TG170，特殊高温可按要求定制。
	老化座	老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料。
	规格尺寸	280mm×600mm。
	总线接口	100Pin+72Pin-2.54。
计算机	配置	主流配置工业计算机。
	显示器	12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器。
	输入方式	键盘、鼠标、触摸屏输入方式。
	软件界面	Windows7中文菜单界面，操作友好、使用便捷。
	数据记录	试验数据以文本、表格（Excel）、曲线等方式保存在硬盘中，供*记录保存。
使用条件	工作温度	-5℃～40℃。
	工作湿度	相对湿度：不大于80%。
	供电要求	220V±10％(单相三线制)。
	电网频率	50Hz±2Hz。
	整机功耗	8KW。
	周围环境	无强磁场干扰和有害气体侵蚀。