
X射线测厚仪是检测电镀层厚度的仪器,通常x射线测厚仪被广泛应用于电镀厂,五金厂,汽车零部件,PCB加工,电子连接件等行业。X射线测厚仪又叫膜厚仪,测膜仪,镀层测试仪,x射线镀层测厚仪,金属测厚仪,xrf测厚仪,x-ray测厚仪,x荧光光谱镀层测厚仪等。那么如何校正?
使用标准片进行校正是x射线测厚仪的正确方法,标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST证书),美国Calmetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片及RoHS标准片,以及对标准片进行重新鉴定,其所有证书都是符合NIST(National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSI(American National Standards Institute美国国家标准学会)标准。
x射线测厚仪介绍:
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
苏州百测检测科技有限公司专注于x射线荧光光谱仪,手持式光谱仪,ROHS检测仪器,x射线镀层测厚仪,直读光谱仪,XRF检测仪器,手持式合金分析仪,等离子体发射光谱仪,RHS2.0测试仪,手持式X荧光光谱仪等