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台式X荧光光谱仪分析过程误差之仪器方面

台式X荧光光谱仪分析过程误差之仪器方面

熟悉台式X荧光光谱仪这个仪器的应该都知道它的原理,是X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源,激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。那因为其高效精度高的特点,X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。所以我们也要着力于研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差,那么今天小编来给大家介绍下其中一个方面。

创想台式X荧光光谱仪

X荧光光谱仪仪器方面的误差因素:

1、压片板(或压片头)不光洁,导致分析面不光滑,从而影响测量结果。

2、光路真空度不合适,分光晶体、滤光片选择不佳,使各种射线产生干扰,影响分析。

3、X射线管电压、电流不稳定,从而产生结果波动。

4、随着时间的延长,X光管内部元件尺寸位置变化引起初级X射线强度的变化,或X射线管阳极出现斑痕,靶元素在窗口沉积,给分析结果带来误差。

5、温度的变化,引起分光晶体晶面间距变化,从而影响分光效率。正比计数管高压漂移,温度变化引起管内气体成分变化,影响放大倍数。

6、电子电路的漂移,计数的统计误差,检测过程的时间损失引入的计数误差等。

7、气体的压力、氮气、甲烷气体的流量、温度等辐射通道条件的变化,都会影响光路中气体对X射线的吸收。因此,气瓶的减压阀一旦调好,不要随意再动,特别是更换新气时,一定要尝试着多次调气压,否则,由于气流、气压不稳,使结果产生误差。 


无锡创想分析仪器有限公司杭州分公司专注于光谱仪,直读光谱仪,光谱分析仪等

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