天瑞仪器X射线荧光光谱仪原理和参数详细介绍，天瑞仪器X射线荧光光谱仪报价和培训手册由天瑞仪器公司业务销售部提供。XRF由于*化学前处理，快速分析，一键测试操作简单的特点，以及适用范围广德优势深受实验室人员的欢迎。EDX4500H具有分析速度快，检测精度高，仪器重复性好，使用寿命长，维护成本低等优点，是集天瑞仪器 二十余年的x射线荧光光谱仪研发技术结晶，实现对各种复杂矿物、有色金属、复合新型材料等元素成份进行快速、准确、无损分析。
另外，在ROHS分析、镀层测厚、卤素检测、红磷成分分析、合金黄铜分析、矿石全元素分析、土壤重金属、沉积物分析等检测应用上也十分广泛。
性能特点
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
**薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
天瑞仪器的发展历程：
2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。代码为300165。
2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPER XRF 2400，其**微量元素检测的特功能将传统XRF性能提升数倍。
2011年4月26日，在2011中国科学仪器发展年会上，天瑞仪器被授予“2010年度具影响力国内仪器产商”及“2010年度佳网络营销奖”。
2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获津贴
天瑞仪器的销售营业网点遍布全国，在全国三十个省市设立办事机构，成立全国统一客户服务中心。--，800-9993-800。由客户服务中心统一安排全国及海外的售后维护。我们为客户承诺4小时响应，国内24-72小时的及时上门服务。
天瑞仪器的客户，遍布国内外企业，**。
技术指标:
测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9
稳定性：0.02
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片自由切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
仪器配置:
X-SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密移动平台
光闸系统
样品观测系统
电子控制系统
计算机及喷墨打印机
测试实例:
使用EDX仪器对汽车配件玻璃样品进行测试，测试时间1秒，其测试谱图和数据如下图：
使用一秒时间能完成测试，且测试结果精度满足测试需求。使用EDX 9000C仪器在满足测试精度的基础上可以大大
的缩短测试时间。
地矿行业应用优势
检测元素：标准配置可检测60种元素，同时可按客户需求增加检测元素
性：矿石版分析软件，采用智能一键测试
*个性化定制工作模式
多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加，根据客户需求定制工作模式。
*准确界定矿山边界
内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，在测试时可随时记录测量的经纬度、海拔高度，确定取样点的地理位置信息，并随测试报告同时保存。
*获得的坐标分析数据可绘制成矿山矿石分布图，从而快速普查大范围矿区，准确掌握矿脉走向，界定矿山边界，做到**开采富矿区，大大提高生产效率。
*内置蓝牙功能，配置蓝牙打印机后，可实现重点矿区原位测试的“边测边打”功能。
*充分挖掘矿山价值
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
EDX4500P应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素、红磷管控）
EDX 4500P X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对ROHS重金属元素以及磷元素进行快速、准确、无损分析。
红磷作为阻燃剂来管控，虽然暂时并未纳入RoHS管控，但是目前限于市场要求，很多国际客户如松下、索尼、三星、LG、海尔等都对此对红磷要求。我司推出一款针对ROHS+无卤+无磷仪器EDX4500P.该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于rohs仪器,天瑞仪器,x荧光光谱仪,镀层测厚仪,手持式光谱仪,膜厚仪,合金分析仪,便携式分析仪,手持式光谱仪厂家等