扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的电子显微镜，主要用于对材料表面形貌、结构和成分等进行观察和分析。它可以通过扫描样品表面并记录电子信号来获得高分辨率、高清晰度的图像。扫描电镜通常由电子枪、电子透镜、扫描线圈、检测器和图像处理系统等部分组成。电子枪发射电子束，电子透镜控制电子束的聚焦和定位，扫描线圈扫描电子束并记录电子信号，检测器将电子信号转换为图像信号，图像处理系统对图像进行处理和分析。扫描电镜可观察到微观尺度下的细节和结构，对材料的表面形貌、结构和成分等进行分析，广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域的研究和分析中，是一种非常重要的高端科学研究设备。
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