X荧光镀层分析仪介绍
X荧光镀层分析仪 大家可能会有写陌生,那么接下来让大家对它了解下。
一、测量。
1、通过自动定位功能提高操作性测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
2、微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3、多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4、广域观察系统( 选配)可从大250 x 200mm的样品整体图像*测量位置。
5、对应大型印刷线路板(选配)可对600x600mm的大型印刷线路板进行测量。
6、低价位与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。
二、为了适应日益提高的镀层厚度测量要求,精工开发了配备自动定位功能的X荧光镀层分析仪
1、通过自主定位功能,仅需把样品放置在样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。因此,*进行以往的手动主次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。
2、自动聚焦和激光聚焦模式:配置激光聚焦和自动对焦系统,可以快速对焦,改变焦距设定,方便凹形样品的。
3、双重准直器配置:可以常规使用, 也可以针对小型样品、矩形样品进行不同准直器选择测量。
4、双重摄像头功能:在常规摄像头的基础上可以选配广域摄像头,可以针对样品进行整体拍照,然后再局部放大进行测量。
三、功能强大的软件功能。
1、Word/Excel完善的报告格式。
2、测量速度快速而精确。
3、为客户提供多种镀层种类标准片,可是为客户实现多种镀层厚度测量功能。
4、具备镀层中元素分析的功能。
上述就是小编为你介绍的关于X荧光镀层分析仪介绍的内容,对此你还有什么不了解的,欢迎前来咨询我们网站,我们会有技术人员为你讲解。
关键词: Rosh检测仪 X荧光镀层分析仪 X荧光光谱检测仪
编辑精选内容:
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于ROHS检测仪,Rohs分析仪,X-RAY检测设备,电镀层膜厚仪,Rohs2.0检测仪,工业CT,镀层厚度测试仪,手持式合金牌号分析仪等