XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪,搭载全新智能抽真空系统,同时应用了先进的EFP算法和微光聚集技术,既保留了**测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足成分分析,尤其是对S引、P、S、Al、Mg等轻元素有较佳的激发效果,大大提高了检测效率。产品广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和生产工艺控制的测量使用。接着就跟X荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。
一六仪器研发团队,潜心研发、打造XAVU智能抽真空仪器,外观更加简洁大气。仪器在对轻元素涂镀层厚度及成分测试上,精度更高,数据更加稳定。仪器可自动检测密闭性,准确控制真空度,搭载EFP核心算法,能够快、准、稳的做出数据分析。
XAVU X荧光光谱仪的性能优势有哪些?
1,搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,较小测量面积达0.03m㎡;
2.拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm;
3.核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快准稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测**层Ni和*三层Ni的厚度);
4.配置智能抽真空系统,屏蔽大气对低能元素的影响,对Al,S引,P等轻元素涂镀层厚度以及成分测试精度更高,数据更加准确稳定;
5.装配SDD硅漂移探测器,分辨率更高,能量线性好,较高的峰背比;
6.配置更高效数字多道技术,测试速度更快,计数率达到100000CPS,精度更高;
7.涂镀层分析范围:锂Li(3)·轴U(92);
8.成分分析范围:钠Na(11)-轴U(92);
9.RoHS、卤素有害元素检测;
10.人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作;
11.标配4准直器自动切换,较小测量面积可达0.03m㎡;
12.配有微光聚集技术,较近测距光斑扩散度小于10%;
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