X光镀层测厚仪是一种用于查看物体厚度的仪器仪表。在工业生产测厚中广泛运用。这类仪器，根据其测量办法的不一样，大致可以划分为以下几个种类：运用嵘湎摺⑩射线、y射线穿透特性的放射性厚度计；选用超声波频率改动的超声波厚度计以及选用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。

      此外，运用微波和激光技术制成厚度计，现在还处在研发、试验期间。X光镀层测厚仪可测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、搪瓷、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：搪瓷、橡胶、油漆、塑料等）。既可用于实验室中的精细测量，也可用于工程现场广泛地运用在金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等范畴，是企业确保产品质量、商查看控的查看仪器。

      X光镀层测厚仪作业原理：

膜厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

1、磁性法：当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

2、涡流法：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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