X荧光光谱仪是一种较新式可以对多元素开展迅速与此同时测量的仪器设备。在X射线激起下，被测元素分子的里层光电产生能级跃迁而传出次级线圈X射线。光波长和动能是以不一样的视角来观察叙述X射线所采用的2个标量。X荧光光谱仪技术性的关键特点为：

运用低要X光激起被测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有优良的激起实际效果，而且检测时间短速度快，进一步提高了检验工作效率和工作效能：具备较好的动能线形和动能屏幕分辨率，及较好的能谱仪特点，较高的峰背比；

采用全自动稳谱设备，确保了仪器设备工作中的一致性：

运用解谱技术性使谱峰溶解，使分析仪器对Si、S、AI等轻元素的检测具备好的剖析精密度；采用多主要参数的回归分析方式，使元素间的消化吸收、抵触效用获得显著的减少。

X荧光光谱仪// ** ./

使用期限的技术性：

（1）、光管全自动衰老作用；

（2）、全自动跟进不一样材料挑选差异的光管电流量；

（3）、强劲的导热系统软件确保光管一切正常的工作中标准；

模块化设计的作用设计构思有利于解决命令开展、检验元素內容的升；*更加精致的加工工艺，完成小容积样品的检验；

全环路射线安全防护系統相互配合三重安全防护设计方案，与此同时采用硬件软件双向安全性连锁*，保辐射源安全系数。

X荧光光谱仪的测试流程：

（1）挑选统计分析方法与制样方法。分析方法一般有主要参数法、半基本参数法、工作经验指数法等，制样方法一般有打磨抛光法、压片糖果法、过滤纸片法和熔片法，常见粉末状压片糖果法纪样，采用主要参数法检测。

（2）将配制好的样照放进样品杯，放入样品交换机中，自动进样至样品室，X射线管传出原级X射线直射样品，激起负票测元素的莹光X射线。

（3）样品辐射源出的莹光X射线根据分光结晶，将X射线拉曼光谱分析散射成独立的纯色分析线，由探测仪精确测量各谱线的抗压强度，依据采用的统计分析方法转换成元素浓度值，获得样品中被测元素成分。

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