EDX-2600型 X荧光分析仪具有分析精度高、测试速度快、测试简单等优点。可完全满足RoHS/WEEE相关管控要求，符合国际电工**IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
一．应用领域：
       1．分析从硫（S）到铀（U）之间的Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
       2．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。
       3．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。
二．性能特点:
       1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
       2.高压电源。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。 
       3.高效X光管。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
       4.进口原装电制冷Si-Pin探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
       5.高信噪比的电子线路系统。
       6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，提高分析较低限。
       7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制，提高分析准确度。
       8.内置高清晰摄像头，有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。
       9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的较理想调整。
       10.小样品腔尺寸(闭仓门测试)：460×298×150mm。大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能。
       11.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。
       12.辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统。
       13. 分析软件：国际良好的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
三．技术指标：
       1.测量元素范围：从硫（S）到铀（U）。 
       2.元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）。 
       3.同时分析元素：一次性可测几十种元素。 
       4.测量时间：60秒-200秒。
       5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
       6.较低检出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
       7.工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
       8.电源：交流220V±5V,选配高精度参数稳压电源。
       9.较佳分辨率能达到149eV±5。
       10.样品腔尺寸：460×298×150mm。
       11. 外观尺寸：550×416×333mm。
       12.电源：AC 220V～240V、50Hz。
       13.额定功率：800W。
       14.重量：约45KG.
四．主体配置：
       1.高效薄窗X光管（W或Mo靶）。 
       2.高压电源。
       3.原装美国高性能电制冷Si-Pin半导体探测器。
       4.大样品测量腔。
       5.移动平台。
       6.光路增强系统。 
       7.高信噪比电子线路系统。 
       8.高清晰摄像头。 
       9.自动切换型准直器和滤光片。 
       10.三重安全保护模式。 
       11.整体钢架结构，力度可靠的保证。
       12.**计算机、液晶显示器、激光打印机。
       13.分析软件。
       14.标准物质：银校正标样等。
       15.仪器的其它配置：样品杯 、测试薄膜、保险丝。

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