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电子零组件高温储存试验知识

电子零组件高温储存试验知识
高温储存试验

试验目的:用来确定电子电工元件、设备及其它产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。

高温对产品的影响:老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁移、熔化、汽化变形等。

参考标准:《GBT 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验B:高温》等


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