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江西MCW-2010A型(涡流)涂层测厚仪技术参数

MCW-2010A型(涡流)涂层测厚仪

一、概述

MCW-2010A型(涡流)涂层测厚仪测量范围:0~1200um

适合测量小工件和薄涂层厚度。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷;且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已经达到国际同类仪器的先进水平。

二、产品性能

1、测量范围:  0~1200um  

2、测量误差(H为被测覆层厚度):±(3%H+1um)  或H±2um  

3、重复性:±(1%H+1um)

4、较小示值:  1um  

5、显示方式:    4位液晶数字显示  

6、主要功能:  

  (1).测量:内置探头全量程测厚  

  (2).统计:设有三个统计量:平均值、较大值、较小值  

(3).校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准  

  (4).电量:具有欠压显示功能  

  (5).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示  

  (6).关机:具有自动关机和手动关机两种方式  

7、电源:         两节1.5v电池  

8、功耗:      

   较大功耗110mw  

9、外形尽寸:     115mm*45mm*25mm  

10、重量:     100g(含电池)  

11、使用环境温度: 0℃~+40℃  相对湿度:不大于90%  

12、基体较小厚度: 0.3mm  

13、基体较小平面的直径:

7mm  

14、较小曲率半径: 凸:1.5mm      凹:6mm  

15、欠电压指示:   右上角显示""  

*临界厚度值:工件基体厚度大于1mm时,其涂层厚度的测量不受基体厚度影响。

三、MCW-2010A型(涡流)涂层测厚仪配置单

MCW-2010Ai涂层测厚仪说明书下载

1、涂层测厚仪MCW-2010A                

一台

2、1.5v电池 (7号)                            二节

3、标准样片      

                   一盒

4、标准基体                                      

一块

5、手提箱                                        

一个

6、说明书、合格证                             一套

 


南昌星枫仪器有限公司专注于测距仪,涂层测厚仪,超声波测厚仪,里氏硬度计,测振仪等

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